Центр коллективного пользования «Визуализация высокого разрешения»

screenshot-2019-05-30-at-11-20-30ЦКП «Визуализация высокого разрешения» создан в Сколтехе в сентябре 2018 г.  ЦКП включает электронные микроскопы: сканирующие (двух-лучевой FEI Helios G4 Plasma FIB Uxe и низковакуумный FEI Quattro S) и просвечивающий (FEI Titan Themis Z), а также комплекс оборудования для пробоподготовки (Struers LaboPol, LectroPol-5, TenuPol-5, MultiPrep, Ion Beam Milling и др.).

На сегодняшний день просвечивающая электронная микроскопия является одним из наиболее мощных методов структурных и аналитических исследований широкого спектра материалов, в том числе металлов, сплавов, порошков, покрытий и многих других материалов. С использованием различных методик электронной микроскопии, таких как HRTEM, STEM, EFTEM, EELS, EDX и др. можно получить исчерпывающую информацию о кристаллической структуре материала, о наличии и типе дефектов кристаллической решетки, качественном и количественном химическом составе материала, степени окисления и др.

Основная задача Центра – сопровождение исследований, ведущихся в Сколтехе, направленных на решение широкого спектра научных задач исследовательскими центрами, а также проведение научно-исследовательских работ, связанных с изучением материалов с использованием как сканирующей, так и просвечивающей микроскопии, в интересах участников экосистемы Сколково и внешних заказчиков.

Руководитель ЦКП – Шахова Ярослава Эдуардовна, к.ф.-м.н.

Сотрудники:

Кирсанова Мария Александровна, к.х.н.

Услуги

  1. Исследование микроструктуры металлических и наноструктурных материалов, морфологии и размера частиц, изучение покрытий
  2. Изучение дефектов в кристаллических материалах
  3. Количественный и качественный анализ элементного состава с использованием EDX
  4. Наномеханикa
  5. Анализ локального элементного состава с использованием EELS и EDX
  6. 3D визуализация частиц, частиц второй фазы или включений
  7. Пробоподготовка с использованием сфокусированного ионного пучка (FIB) для просвечивающей электронной микроскопии
  8. Пробоподготовка для просвечивающей электронной микроскопии в без O2- и H2O-атмосфере
  9. Количественное и качественное исследование фазового состава, параметров кристаллической ячейки и кристаллической структуры образцов
  10. Техническое консультирование, обучение

 

По всем вопросам, связанным с заказом услуг и сотрудничеством, просьба писать по адресу 

Проекты, выполняемые на базе или при участии ЦКП

Внутренние:

  1. Исследование кристаллической структуры и химического состава катодных материалов с использованием электронной просвечивающий микроскопии (2019, руководитель А.А. Абакумов)
  2. Исследование кристаллической структуры и химического состава катодных материалов с использованием электронной просвечивающий микроскопии (2019, руководитель Е.В. Антипов)
  3. Исследование литий-проводящей композитной полимерной мембран для проточных батарей при помощи сканирующей электронной микроскопии (2019, руководитель К.Д. Стивенсон)
  4. Изучение многослойных покрытий методом сканирующей электронной микроскопии (2019, руководитель А. Корсунский)
  5. Исследование ITO при помощи сканирующей электронной микроскопии (2019, руководитель С. Косолобов)

 

Внешние:

  1. Исследование частиц коллоидного золота в составе осадка верхнего слива противоточной декантации после процесса бактериально-химического окисления (2018-2019)
  2. Определение элементного состава образцов (участков крепления отдельных деталей на украшении) методом энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии на сканирующем электронном микроскопе (2019)
  3. Исследование кристаллической структуры неорганический материалов при помощи просвечивающей электронной микроскопии (2019)
  4. Исследование кристаллической структуры и химического состава электродных материалов и катализаторов при помощи просвечивающей электронной микроскопии (2019)

 

Документы

  1. Приказ о создании ЦКП «Визуализация высокого разрешения»
  2. Список оборудования
  3. Перечень услуг и тарифы
  4. Шаблон договора оказания услуг