|
№ п/п |
Наименование методики исследований |
Наименование организации, аттестовавшей методику исследования |
Дата аттестации методики исследований |
|
1 |
ФР 1.27.2009.06761 Методика выполнения измерений геометрических размеров наночастиц с помощью просвечивающей электронной микроскопии. |
ФГУП ВНИИМС |
10.11.2009 |
|
2 |
ФР 1.27.2009.06763 Методика выполнения измерений толщины тонких (от 10 нм) покрытий (пленок, слоев) методом растровой электронной микроскопии на поперечных срезах, приготовленных с помощью ионного пучка. |
ФГУП ВНИИМС |
10.11.2009 |
| 3 | ГОСТ Р 8.697-2010. ГСИ. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа. | ||
| 4 | ASTM E 1245 Стандартная методика определения содержания включений или компонентов вторичной фазы в металлах методом автоматического анализа изображений. | ||
| 5 | ASTM E 1508 Стандартная методика для проведения количественного анализа с использованием методики энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии. | ||
| 6 | ASTM E 2142 Стандартная методика для оценки и классификации включений в сталях с использованием сканирующей электронной микроскопии. | ||
| 7 | ASTM E2627-13(2019) Стандартная методика для определения размера зерен с использованием картин микродифракции обратно рассеянных электронов (EBSD) в полностью рекристаллизованных поликристаллических материалах. |
