О центре

ЦКП «Визуализации высокого разрешения» создан в Сколтехе в сентябре 2018 г.  ЦКП включает электронные микроскопы, сканирующие (FEI Helios G4 Plasma FIB Uxe (двух-лучевой) и FEI Quattro S (с возможностью работы в низком вакууме)) и просвечивающий (FEI Titan Themiz Z), комплекс оборудования для пропободготовки (LaboPol, LectroPol-5, TenuPol-5, MultiPrep, Ion Beam Milling и др.).

На сегодняшний день просвечивающая электронная микроскопия является одним из наиболее мощных методов структурных и аналитических исследований широкого спектра материалов, в том числе металлов, сплавов, порошков, покрытий и многих других материалов. С использованием различных методик электронной микроскопии, таких как HRTEM, STEM, EFTEM, EELS, EDX и др. можно получить исчерпывающую информацию о кристаллической структуре материала, о наличии и типе дефектов кристаллической решетки, качественном и количественном химическом составе материала, степени окисления и др.

Основная задача Центра – сопровождение исследований, ведущихся в Сколтехе, направленных на решение широкого спектра научных задач исследовательскими центрами, а также проведение научно-исследовательских работ, связанных с изучением материалов с использованием как сканирующей, так и просвечивающей микроскопии, в интересах участников экосистемы Сколково и внешних заказчиков.