|
№ п/п |
Наименование услуги |
Наименование оборудования |
Единица измерения, образец |
|
1 |
Исследование морфологии частиц |
Сканирующий электронный микроскоп Quattro S |
1 образец |
|
2 |
Изучение морфологии поверхности образца, при необходимости применение детектора обратно рассеянных электронов |
Сканирующий электронный микроскоп Quattro S |
1 образец |
|
3 |
Исследование элементного состава образца (по 5 точкам) |
Сканирующий электронный микроскоп Quattro S |
1 образец |
|
4 |
Исследование элементного состава образца (картирование по 3 областям) |
Сканирующий электронный микроскоп Quattro S |
1 образец |
|
5 |
Исследование морфологии частиц |
Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 |
1 образец |
|
6 |
Изучение морфологии поверхности образца, при необходимости применение детектора обратно рассеянных электронов |
Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 |
1 образец |
|
7 |
Исследование элементного состава образца (по 5 точкам) |
Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 |
1 образец |
|
8 |
Исследование элементного состава образца (картирование по 3 областям) |
Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 |
1 образец |
|
9 |
Изготовление и визуализация кроссекции |
Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 |
1 образец |
|
10 |
Подготовка ламели для исследования на ПЭМ |
Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 |
1 образец |
|
12 |
Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца (по линии) |
Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 |
1 образец |
|
13 |
Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры |
Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 |
1 образец |
|
14 |
Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ или СПЭМ режимах |
Просвечивающий электронный микроскоп Titan Themis Z |
1 образец |
|
15 |
Изучение зеренной структуры образца с определением плотности дислокаций |
Просвечивающий электронный микроскоп Titan Themis Z |
1 образец |
|
16 |
Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции |
Просвечивающий электронный микроскоп Titan Themis Z |
1 образец |
|
17 |
Визуализация кристаллической структуры образца в режиме высокого разрешения ПЭМ и СПЭМ |
Просвечивающий электронный микроскоп Titan Themis Z |
1 образец |
|
18 |
Решение кристаллической структуры образца с использованием электронной томографии обратного пространства |
Просвечивающий электронный микроскоп Titan Themis Z |
1 образец |
|
19 |
Определение элементного состава образца с использованием методики энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDX) (картирование по 3 областям) |
Просвечивающий электронный микроскоп Titan Themis Z |
1 образец |
|
20 |
Картирование элементного состава образца с использованием методики энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDX) с атомным разрешением (по 3 областям) |
Просвечивающий электронный микроскоп Titan Themis Z |
1 образец |
|
21 |
Исследование элементного состава образца, включая легкие элементы, с использованием спектроскопии энергетических потерь электронов (EELS) (получение спектров в 5 точках) |
Просвечивающий электронный микроскоп Titan Themis Z |
1 образец |
|
22 |
Картирование элементного состава образца, включая легкие элементы, с использованием спектроскопии энергетических потерь электронов (EELS) в режиме СПЭМ (по 3 областям) |
Просвечивающий электронный микроскоп Titan Themis Z |
1 образец |
|
23 |
Визуалицаия наночастиц с использованием электронной томографии |
Просвечивающий электронный микроскоп Titan Themis Z |
1 образец |
|
24 |
Визуализация многослойных структур (гетероструктур) с атомным разрешением |
Просвечивающий электронный микроскоп Titan Themis Z |
1 образец |